2020, випуск 1, c. 83-92

Одержано 24.02.2020; Виправлено 01.03.2020; Прийнято 10.03.2020

Надруковано 31.03.2020; Вперше Online 26.04.2020

https://doi.org/10.34229/2707-451X.20.1.9

Попередня  |  Повний текст  |  Наступна

 

УДК 006.90.01.39:681.2

МЕТРОЛОГІЧНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ БЕЗДРОТОВИХ СЕНСОРНИХ СИСТЕМ

В.Т. Кондратов 1 *

1 Інститут кібернетики імені В.М. Глушкова, Київ, Україна

* Листування: Ця електронна адреса захищена від спам-ботів. Вам потрібно увімкнути JavaScript, щоб побачити її.

 

Вступ. У роботі виділено дванадцять проблем метрологічної надійності бездротових сенсорних систем, які вимагають свого вирішення.

Найбільш актуальною є проблема визначення основних параметрів метрологічної надійності бездротових сенсорних систем. Вона тісно пов'язана з вирішенням задачі самокалібрування оптичних смарт-сенсорів, що входять до складу смарт-вузлів системи.

Задача самокалібрування смарт-сенсорів вирішується при виконанні трьох основних умов: 1) при створенні та використанні структурно-надлишкових оптичних сенсорів, призначених для реалізації методів надлишкових вимірювань; 2) при розробці світлодіодів чи інших високостабільних джерел оптичного випромінювання, в тому числі й з керованими параметрами, на будь-який заданий спектральний діапазон довжин хвиль; 3) при створенні в мікровиконанні світлофільтрів на апріорі заданий діапазон спектра оптичних сигналів.

У статті описані два методи метрологічного забезпечення смарт-сенсорів БСС, заснованих на введенні інформаційної надмірності шляхом проведення трьох тактів вимірювань фізичної величини смарт-сенсором з подальшою обробкою отриманих даних по апріорі виведеному алгоритму. Показано недоліки і переваги методів.

Констатується, що використання теорії надлишкових вимірювань — це є правильний шлях вирішення задачі самокалібрування сенсорів і вимірювальних приладів.

З огляду на жорсткі умови експлуатації оптичних смарт-сенсорів, переважно їх виготовлення з використанням високих технологій.

На сьогоднішній день в Україні практичним вирішенням проблем метрологічної надійності бездротових сенсорних систем і вирішенням задач самокалібрування смарт-сенсорів ніхто не займається.

 

Ключові слова: оптичні смарт-сенсори, самокалібрування, бездротові сенсорні системи, методи надлишкових вимірювань, проблеми метрологічної надійності

 

Цитувати так: Кондратов В.Т. Метрологічне забезпечення бездротових сенсорних систем. Cybernetics and Computer Technologies. 2020. 1. С. 83–92. https://doi.org/10.34229/2707-451X.20.1.9

 

Список літератури

           1.     Штанько Н.Н. Обзор методов определения местоположения объекта. http://aes.psuti.ru/wp-content/uploads/2017/10/PTiTT_2017_3.pdf (дата звернення: 01.02.2020).

           2.     Метрологическое обеспечение. http://metrob.ru/html/mo/ (дата звернення: 01.02.2020).

           3.     Беспроводной стандарт ZigBee. https://rozetka.com.ua/umnie-datchiki/c4638399/besprovodnoy-standart141008=zigbee/ (дата звернення: 01.02.2020)

           4.     Самокалибровка при измерениях. http://robotosha.ru/electronics/self-calibration-measurements.html (дата звернення: 01.02.2020).

           5.     Кондратов В.Т. Теория избыточных измерений – теория мирового значения. Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. 2007. № 1. С. 152–160.

           6.     Кондратов В.Т. Теория избыточных измерений и ее структура. Научные труды X-й Юбилейной Международной науч.-техн. конф. «Фундаментальные и прикладные проблемы приборостроения, информатики и экономики». Книга «Приборостроение». М.: МГУ ПИ, 2007. С. 143–150.

           7.     Кондратов В.Т. Новая стратегия измерений. Законодательная и прикладная метрология. 2008. № 3. С. 101–121.

           8.     Романов В.О. Вимоги до сенсорних вузлів у системах Інтернету речей. Комп’ютерні засоби, мережі та системи. 2018. № 17. С. 1–5. http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/150600

 

 

ISSN 2707-451X (Online)

ISSN 2707-4501 (Print)

Попередня  |  Повний текст  |  Наступна

 

 

 

© Вебсайт та оформлення. 2019-2022,

Інститут кібернетики імені В.М. Глушкова НАН України,

Національна академія наук України.